CT檢查
典型有些嚴(yán)重的胼胝體發(fā)育不全，CT診斷不難，但對(duì)輕度或中度發(fā)育不良，有時(shí)由于層厚有些厚或間隔過大，橫軸位掃描，易于漏診。對(duì)有神經(jīng)運(yùn)動(dòng)和智力障礙，疑有胼胝體發(fā)育不全者，掃描時(shí)應(yīng)在Ⅲ室和側(cè)室水平將層厚減薄到3-5mm連續(xù)掃描。有些大的兒童或成年亦可用8-10mm層厚，但如有懷疑，仍需減薄到3-5mm。冠狀位有利于判斷Ⅲ室的位置。重建或直接矢狀位，更易顯示胼胝體全貌，一般不用增強(qiáng)掃描，但可提供另外有用信息。
CT表現(xiàn)
典型的駢眠體發(fā)育不全的CT表現(xiàn)如下：①大腦縱裂增寬與第三腦室前部相連。②雙側(cè)側(cè)腦室擴(kuò)大、分離。③第三腦室擴(kuò)大上升位于側(cè)腦室之間。④室間孔不同程度的擴(kuò)大和分離。其中①為最常見和最可靠的直接征象，②、③和④為間接征象。
雙側(cè)腦室分離，第三腦室擴(kuò)大、上升、介于雙側(cè)腦室之間，形似蝙幅翼狀。
胚胎發(fā)育的生理性腦積水，隨著腦組織生長(zhǎng)腦室逐漸變小，當(dāng)腦組織生長(zhǎng)局部或普遍性受損害時(shí)，則導(dǎo)致局部或普遍性腦室擴(kuò)大。胼胝體大多發(fā)育不良，引起枕角不成比例的明顯擴(kuò)大。腦回呈放射樣排列的大腦半球側(cè)面，神經(jīng)組織招疊，阻止了雙側(cè)腦室的靠近，使腦室分離，過量的腦組織形成多小腦回或側(cè)腦室內(nèi)側(cè)面，尤其是靠近額角，腦組織的距離減少。使腦室分離，尤其是額角前部變窄，如臨近白質(zhì)發(fā)育不良，導(dǎo)致額角呈莖樣，正常駢服體纖維呈水平狀排列，胼胝體發(fā)育不全時(shí)，呈縱向排列，所以側(cè)腦室內(nèi)緣光滑，大致呈雙互平行走向。由于胼胝體外側(cè)束的壓跡可使側(cè)腦室內(nèi)緣凹陷。異位神經(jīng)組織聚集，阻止了放射狀纖維遷移，使腦室外側(cè)壁不規(guī)則。間腦發(fā)育不良導(dǎo)致Ⅲ室擴(kuò)大和上升。神經(jīng)組織，主要是白質(zhì)發(fā)育不良，引起大腦半球縱裂增寬。
